Electron and ion beams are widely used for both qualitative and quantitative analysis of semiconductor materials and devices. They can be used to image structures with sub-nm resolution and to provide information about elemental composition and dopant concentration. This course describes the fundamentals of electron and ion beam characterization and includes a project that analyzes the surface roughness of a solar cell.

Electron and Ion Beam Characterization
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Electron and Ion Beam Characterization
Dieser Kurs ist Teil von Spezialisierung „Semiconductor Characterization“

Dozent: Trevor Thornton
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Was Sie lernen werden
Explain the interaction of electron and ion beams with semiconductor materials.
Describe the constituent components of electron and ion beam characterization systems.
Describe applications of electron and ion beam characterization.
Kompetenzen, die Sie erwerben
- Kategorie: Scientific Visualization
- Kategorie: Semiconductors
- Kategorie: Materials science
- Kategorie: Image Analysis
- Kategorie: Quantitative Research
- Kategorie: Laboratory Equipment
- Kategorie: Engineering, Scientific, and Technical Instruments
- Kategorie: Qualitative Research
- Kategorie: Laboratory Research
- Kategorie: Analytical Testing
- Kategorie: Analytical Chemistry
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5 Aufgaben
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- Lernen Sie neue Konzepte von Branchenexperten
- Gewinnen Sie ein Grundverständnis bestimmter Themen oder Tools
- Erwerben Sie berufsrelevante Kompetenzen durch praktische Projekte
- Erwerben Sie ein Berufszertifikat zur Vorlage

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