Course 2 begins with the definitions of resistivity and sheet resistance of semiconductors and metals and emphasizes the importance of working with the correct units for each. We see how to calculate the sheet resistance of a thin conducting film once we know its resistivity. A method to determine the contact resistance using the transfer length method is described, along with the definition of the specific contact resistivity. Current-voltage (IV) measurements of p-n junction diodes are used to extract key device parameters such as the ideality factor and series resistance. The course project explores how process monitor blocks are used to maintain manufacturing integrity.
Electrical Characterization: Diodes
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Electrical Characterization: Diodes
Ce cours fait partie de Spécialisation "Semiconductor Characterization"
Instructeur : Trevor Thornton
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niveau Intermédiaire
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4 heures à compléter
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Ce que vous apprendrez
Define resistance, resistivity, and sheet resistance and their associated units.
Describe how to perform four-point probe current-voltage measurements.
Explain the use of the transfer length method.
Compétences que vous acquerrez
- Catégorie : Engineering, Scientific, and Technical Instruments
- Catégorie : Laboratory Testing
- Catégorie : Electrical Engineering
- Catégorie : Engineering Calculations
- Catégorie : Analytical Testing
- Catégorie : Materials science
- Catégorie : Laboratory Equipment
- Catégorie : Applied Mathematics
- Catégorie : Electronic Components
- Catégorie : Mathematical Modeling
- Catégorie : Production Process
- Catégorie : Test Equipment
- Catégorie : Process Control
- Catégorie : Semiconductors
- Catégorie : Systems Of Measurement
- Catégorie : Electronics
- Catégorie : Manufacturing Processes
Détails à connaître
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6 devoirs
Enseigné en Anglais
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