Electron and ion beams are widely used for both qualitative and quantitative analysis of semiconductor materials and devices. They can be used to image structures with sub-nm resolution and to provide information about elemental composition and dopant concentration. This course describes the fundamentals of electron and ion beam characterization and includes a project that analyzes the surface roughness of a solar cell.



Electron and Ion Beam Characterization
Dieser Kurs ist Teil von Spezialisierung für Semiconductor Characterization

Dozent: Trevor Thornton
Bei enthalten
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Empfohlene Erfahrung
Was Sie lernen werden
Explain the interaction of electron and ion beams with semiconductor materials.
Describe the constituent components of electron and ion beam characterization systems.
Describe applications of electron and ion beam characterization.
Kompetenzen, die Sie erwerben
- Kategorie: Failure Analysis
- Kategorie: Engineering, Scientific, and Technical Instruments
- Kategorie: Quantitative Research
- Kategorie: Semiconductors
- Kategorie: Qualitative Research
- Kategorie: Image Analysis
- Kategorie: Scientific Visualization
- Kategorie: Materials science
- Kategorie: Laboratory Equipment
- Kategorie: Laboratory Testing
- Kategorie: Electronic Components
- Kategorie: Electronics
- Kategorie: Analytical Testing
- Kategorie: Analytical Chemistry
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In diesem Kurs gibt es 5 Module
Electron and ion beams are widely used for both qualitative and quantitative analysis of semiconductor materials and devices. They can be used to image structures with sub-nm resolution and to provide information about elemental composition and dopant concentration. This course describes the fundamentals of electron and ion beam characterization and includes a project that analyzes the surface roughness of a solar cell.
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This week introduces the concepts of scanning electron microscopy and how it is used for both qualitative and quantitative sample analysis.
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2 Videos1 Lektüre1 Aufgabe
This week, you will learn about Auger electron emission spectroscopy, a powerful technique for surface analysis.
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3 Videos1 Lektüre1 Aufgabe
This week, you will learn about secondary ion mass spectroscopy and how it is used to measure the concentration and distribution of constituent materials in semiconductors.
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2 Videos1 Lektüre1 Aufgabe
This week, you will complete a case study to assess your ability to use images obtained from an SEM for quantitative surface analysis.
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