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Optical and X-Ray Characterization

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Optical and X-Ray Characterization

Ce cours fait partie de Spécialisation "Semiconductor Characterization"

Instructeur : Trevor Thornton

2 069 déjà inscrits

Inclus avec

6 modules

Obtenez un aperçu d'un sujet et apprenez les principes fondamentaux.

33 avis

niveau Intermédiaire

Expérience recommandée

4 heures à compléter

Planning flexible

Apprenez à votre propre rythme

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Ce que vous apprendrez

Describe the use of light to measure the thickness and refractive index of thin transparent films.
Explain how light is absorbed and emitted by semiconductors.
Explain the advantages and limitations of optical and X-ray characterization.

Compétences que vous acquerrez

Catégorie : Analytical Chemistry
Catégorie : Materials science
Catégorie : Semiconductors
Catégorie : Laboratory Equipment
Catégorie : Laboratory Techniques
Catégorie : Engineering, Scientific, and Technical Instruments
Catégorie : Laboratory Testing
Catégorie : Structural Analysis
Catégorie : Analytical Testing

Détails à connaître

Certificat partageable

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Évaluations

5 devoirs

Enseigné en Anglais

91%

of learners achieved a positive career outcome

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Ce cours fait partie de la Spécialisation "Semiconductor Characterization"

Lorsque vous vous inscrivez à ce cours, vous êtes également inscrit(e) à cette Spécialisation.

Apprenez de nouveaux concepts auprès d'experts du secteur
Acquérez une compréhension de base d'un sujet ou d'un outil
Développez des compétences professionnelles avec des projets pratiques
Obtenez un certificat professionnel partageable

Il y a 6 modules dans ce cours

Optical and X-ray techniques are powerful ways to characterize semiconductor thin films. They can be used to measure film thickness, purity and crystalline quality, and for compositional analysis. Modern techniques are fast, turn-key, and generally non-destructive, allowing for rapid assessment of material properties. This course describes the fundamentals of optical and X-ray characterization and provides real-world examples of how they are used in semiconductor manufacturing.

Détails du module

Inclus

1 vidéo2 lectures

This week introduces the concept of reflectance spectroscopy: a rapid, convenient, and non-destructive technique for measuring the thickness of transparent materials.

Inclus

2 vidéos1 lecture1 devoir

This week, you will learn about ellipsometry, a powerful technique that allows us to extract the thickness and refractive index of transparent layers as thin as a few nanometers.

Inclus

1 vidéo1 lecture1 devoir

This week, you will learn about photoluminescence.

Inclus

1 vidéo1 lecture1 devoir

This week, you will learn about electron microprobe X-ray analysis.

Inclus

2 vidéos1 devoir

This week, you will complete a case study to assess your ability to analyze electron microprobe x-ray images to determine the constituent elements in a 40 nm MOSFET.

Inclus

1 vidéo1 lecture1 devoir

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