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Electron and Ion Beam Characterization

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Electron and Ion Beam Characterization

Ce cours fait partie de Spécialisation "Semiconductor Characterization"

Instructeur : Trevor Thornton

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Inclus avec

5 modules

Obtenez un aperçu d'un sujet et apprenez les principes fondamentaux.

17 avis

niveau Intermédiaire

Expérience recommandée

5 heures à compléter

Planning flexible

Apprenez à votre propre rythme

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Ce que vous apprendrez

Explain the interaction of electron and ion beams with semiconductor materials.
Describe the constituent components of electron and ion beam characterization systems.
Describe applications of electron and ion beam characterization.

Compétences que vous acquerrez

Catégorie : Image Analysis
Catégorie : Materials science
Catégorie : Analytical Chemistry
Catégorie : Qualitative Research
Catégorie : Engineering, Scientific, and Technical Instruments
Catégorie : Laboratory Research
Catégorie : Scientific Visualization
Catégorie : Semiconductors
Catégorie : Laboratory Equipment
Catégorie : Quantitative Research
Catégorie : Analytical Testing

Détails à connaître

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Évaluations

5 devoirs

Enseigné en Anglais

91%

of learners achieved a positive career outcome

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Ce cours fait partie de la Spécialisation "Semiconductor Characterization"

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Apprenez de nouveaux concepts auprès d'experts du secteur
Acquérez une compréhension de base d'un sujet ou d'un outil
Développez des compétences professionnelles avec des projets pratiques
Obtenez un certificat professionnel partageable

Il y a 5 modules dans ce cours

Electron and ion beams are widely used for both qualitative and quantitative analysis of semiconductor materials and devices. They can be used to image structures with sub-nm resolution and to provide information about elemental composition and dopant concentration. This course describes the fundamentals of electron and ion beam characterization and includes a project that analyzes the surface roughness of a solar cell.

Détails du module

Inclus

1 vidéo2 lectures

This week introduces the concepts of scanning electron microscopy and how it is used for both qualitative and quantitative sample analysis.

Inclus

2 vidéos1 lecture1 devoir

This week, you will learn about Auger electron emission spectroscopy, a powerful technique for surface analysis.

Inclus

3 vidéos1 lecture1 devoir

This week, you will learn about secondary ion mass spectroscopy and how it is used to measure the concentration and distribution of constituent materials in semiconductors.

Inclus

2 vidéos1 lecture1 devoir

This week, you will complete a case study to assess your ability to use images obtained from an SEM for quantitative surface analysis.

Inclus

1 vidéo2 devoirs

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