When will I have access to the lectures and assignments?

To access the course materials, assignments and to earn a Certificate, you will need to purchase the Certificate experience when you enroll in a course. You can try a Free Trial instead, or apply for Financial Aid. The course may offer 'Full Course, No Certificate' instead. This option lets you see all course materials, submit required assessments, and get a final grade. This also means that you will not be able to purchase a Certificate experience.

What will I get if I subscribe to this Specialization?

When you enroll in the course, you get access to all of the courses in the Specialization, and you earn a certificate when you complete the work. Your electronic Certificate will be added to your Accomplishments page - from there, you can print your Certificate or add it to your LinkedIn profile.

Is financial aid available?

Yes. In select learning programs, you can apply for financial aid or a scholarship if you can’t afford the enrollment fee. If fin aid or scholarship is available for your learning program selection, you’ll find a link to apply on the description page.

Optical and X-Ray Characterization

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Optical and X-Ray Characterization

Dieser Kurs ist Teil von Spezialisierung „Semiconductor Characterization“

Dozent: Trevor Thornton

2.072 bereits angemeldet

Bei enthalten

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6 Module

Verschaffen Sie sich einen Einblick in ein Thema und lernen Sie die Grundlagen.

33 Bewertungen

Stufe Mittel

Empfohlene Erfahrung

4 Stunden zu vervollständigen

Flexibler Zeitplan

In Ihrem eigenen Lerntempo lernen

6 Module

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Stufe Mittel

Empfohlene Erfahrung

4 Stunden zu vervollständigen

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Was Sie lernen werden

Describe the use of light to measure the thickness and refractive index of thin transparent films.
Explain how light is absorbed and emitted by semiconductors.
Explain the advantages and limitations of optical and X-ray characterization.

Kompetenzen, die Sie erwerben

Kategorie: Analytical Chemistry
Kategorie: Laboratory Techniques
Kategorie: Analytical Testing
Kategorie: Laboratory Testing
Kategorie: Laboratory Equipment
Kategorie: Engineering, Scientific, and Technical Instruments
Kategorie: Materials science
Kategorie: Semiconductors
Kategorie: Structural Analysis

Wichtige Details

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Bewertungen

5 Aufgaben

Unterrichtet in Englisch

91% of learners achieved a positive career outcome

Erfahren Sie, wie Mitarbeiter führender Unternehmen gefragte Kompetenzen erwerben.

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Erweitern Sie Ihre Fachkenntnisse

Dieser Kurs ist Teil der Spezialisierung Spezialisierung „Semiconductor Characterization“

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Lernen Sie neue Konzepte von Branchenexperten
Gewinnen Sie ein Grundverständnis bestimmter Themen oder Tools
Erwerben Sie berufsrelevante Kompetenzen durch praktische Projekte
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In diesem Kurs gibt es 6 Module

Optical and X-ray techniques are powerful ways to characterize semiconductor thin films. They can be used to measure film thickness, purity and crystalline quality, and for compositional analysis. Modern techniques are fast, turn-key, and generally non-destructive, allowing for rapid assessment of material properties. This course describes the fundamentals of optical and X-ray characterization and provides real-world examples of how they are used in semiconductor manufacturing.

Moduldetails

Das ist alles enthalten

1 Video2 Lektüren

This week introduces the concept of reflectance spectroscopy: a rapid, convenient, and non-destructive technique for measuring the thickness of transparent materials.

Das ist alles enthalten

2 Videos1 Lektüre1 Aufgabe

This week, you will learn about ellipsometry, a powerful technique that allows us to extract the thickness and refractive index of transparent layers as thin as a few nanometers.

Das ist alles enthalten

1 Video1 Lektüre1 Aufgabe

This week, you will learn about photoluminescence.

Das ist alles enthalten

1 Video1 Lektüre1 Aufgabe

This week, you will learn about electron microprobe X-ray analysis.

Das ist alles enthalten

2 Videos1 Aufgabe

This week, you will complete a case study to assess your ability to analyze electron microprobe x-ray images to determine the constituent elements in a 40 nm MOSFET.